随着科技的发展， 人们对于材料的研究越来越深入， 越来越多的领域需要精确了解物质表面的微观形貌和结构组织。 扫描电镜是研究微观结构的常用手段之一，具有图像分辨率高、放大倍率大、景深长等特点。但是粉体材料比表面积很大， 颗粒之间有很强的范德华力以及自聚趋势，严重影响了样品的观察  。 如果要用扫描电镜（ SEM ）对这些材料进行分析， 制样过程中必须要使用一定的处理方法，使粉体分散均匀，无凝聚和团聚。

        导电材料由于其良好的导电性，分子间作用力小，制样过程和分析过程都相对简单。而非导电性材料，样品容易产生荷电现象 , 严重影响分析。 为了消除样品表面荷电 , 通常使用真空镀膜法， 但有时镀膜会掩盖样品的表面细节甚至会对样品造成损伤， 为了保持样品原有的形貌，通常不对样品做镀膜处理。采用低电压是解决荷电问题的有效手段；另外，低真空也可以在很大程度上消除荷电现象。