使用激光粒度仪为什么要测试背景？

   背景是激光透过纯净介质后在探测器上形成的固定的光信号，主要是探测光经过路径上的颗粒物（例如，样品池玻璃和透镜表面上的污渍、内部的瑕疵、介质中的残余颗粒等）对光的散射引起的。测量背景的目的的是在粒度测试（有样品）时扣除这些固定的、与样品无关的信号，以消除样品散射以外的杂散光对测试结果的影响。

   激光粒度仪的背景值如果在大部分探测器上都偏高，而靠近中心的第1、2单元正常时，原因往往是样品池玻璃上的污渍、透镜上的灰尘、介质中残留的颗粒、介质温度低于室温引起的玻璃外表面的雾滴等；如果靠近探测器中心的探测单元，尤其是第1、2单元过高，一般是由光束对中不良引起的。如果所有探测单元的背景信号都过低，很可能是激光器功率下降或者滤波针孔偏移造成的。查清引起背景信号过高或过低的原因后，应排除上述问题，使背景强度恢复到正常状态。

以winner2000ZDE智能湿法激光粒度仪分析仪操作软件为例：

1.仪器加水排气泡后，第一环高于200，应该是光路没有对中，可进行光路对中。

2.仪器加水排气泡后，第二环往后背景都很高，应该是样品窗污染。可清洗样品窗。

3.经过调试后，背景达到以下情况，就可以进行背景测试。